سال انتشار: ۱۳۸۹

محل انتشار: اولین کنفرانس ملی علوم و فناوری نانو

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

مهدی براتی – دانشگاه سیستان و بلوچستان دانشکده علوم پایه گروه فیزیک
عبدالمحمود داورپناه – دانشگاه سیستان و بلوچستان دانشکده علوم پایه گروه فیزیک

چکیده:

طیف سنجی گسیل معکوس الکترون IPES یک روش پیشرفته علوم سطح برای اندازه گیری ترازهای اشغال نشده بادقت بسیار خوب در مقیاس نانو می باشد رفتار الکترونیکی ترازهای سطحی در سطوح فلزات تک کریستالی مخصوصا سزاوار توجه ویژه ای است ترازهای سطحی در میان شکافهای نواری حجم پیدا می شوند ساختار الکترونیکی زیرلایه مس خالص ۱۱۰ بوسیله IPES با دقت ۰٫۵ev موردمطالعه قرارگرفته بود ترازهای سطحی اشغال نشده در این کار تحقیقاتی مورد مطالعه قرا رگرفته اند. ترازهای سطحی از نوارهای جسم مشتق می شوند و درواقع بیرونی ترین لایه اتمی قرار می گیرند طیف سنجی بازتاری ناهمسانگرد یک روش غیرمخرب برای مطالعه ترازهای انرژی سطح فلزات نجیب تک بلوری در مقیاس نانو است دراین روش که گستره طیفی طیف نگار بازتابی ناهمسانگرد نوعی در محدوده مرئی تا فرابنفش از طول موجهای ۲۲۵ نانومتر تا ۸۲۵ نانومتر قرار دارد توافق بسیار خوبی با کارهای قبلی که از روشهای نسبتا معمول گسیل فتوالکترون فرابنفش و گسیل معکوس الکترون فرابنفش حاصی می شد بدست امد.